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SMT基本名詞解釋一

SMT基本名詞解釋一
 
A
Accuracy(精度): 測(cè)量結(jié)果與目標(biāo)值之間的差額。
Additive Process(加成工藝):一種制造PCB導(dǎo)電布線的方法,通過(guò)選擇性的在板層上沈淀導(dǎo)電材料(銅、錫等)。
Adhesion(附著力): 類似于分子之間的吸引力。
Aerosol(氣溶劑): 小到足以空氣傳播的液態(tài)或氣體粒子。
Angle of attack(迎角):印刷刮板面與鋼板平面之間的夾角。
Anisotropic adhesive(各異向性膠或叫導(dǎo)電膠):一種導(dǎo)電性物質(zhì),其粒子只在Z軸方向通過(guò)電流。
Annular ring(環(huán)狀圈):鉆孔周圍的導(dǎo)電材料。
Application specific integrated circuit (ASIC特殊應(yīng)用集成電路):客戶定做得用于專門用途的電路。
Array(列陣):一組元素,比如:錫球點(diǎn),按行列排列。
Artwork(布線圖):PCB的導(dǎo)電布線圖,用來(lái)產(chǎn)生照片原版,可以任何比例制作,但一般為3:1或4:1。
Automated test equipment (ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備):為了評(píng)估性能等級(jí),設(shè)計(jì)用于自動(dòng)分析功能或靜態(tài)參數(shù)的設(shè)備,也用于故障離析。
Automatic optical inspection (AOI自動(dòng)光學(xué)檢查):在自動(dòng)系統(tǒng)上,用相機(jī)來(lái)檢查模型或物體。
 
B
Ball grid array (BGA球柵列陣):集成電路的包裝形式,其輸入輸出點(diǎn)是在組件底面上按柵格樣式排列的錫球。
Blind via(盲通路孔):PCB的外層與內(nèi)層之間的導(dǎo)電連接,不繼續(xù)通到板的另一面。
Bond lift-off(焊接升離):把焊接引腳從焊盤表面(電路板基底)分開的故障。
Bonding agent(粘合劑):將單層粘合形成多層板的膠劑。
Bridge(錫橋):把兩個(gè)應(yīng)該導(dǎo)電連接的導(dǎo)體連接起來(lái)的焊錫,引起短路。
Buried via(埋入的通路孔):PCB的兩個(gè)或多個(gè)內(nèi)層之間的導(dǎo)電連接(即,從外層看不見的)。
 
C
CAD/CAM system(計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與制造系統(tǒng)):計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)是使用專門的軟件工具來(lái)設(shè)計(jì)印刷電路結(jié)構(gòu);計(jì)算機(jī)輔助制造把這種設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)換成實(shí)際的產(chǎn)品。這些系統(tǒng)包括用于數(shù)據(jù)處理和儲(chǔ)存的大規(guī)模內(nèi)存、用于設(shè)計(jì)創(chuàng)作的輸入和把儲(chǔ)存的信息轉(zhuǎn)換成圖形和報(bào)告的輸出設(shè)備
Capillary action(毛細(xì)管作用):使熔化的焊錫,逆著重力,在相隔很近的固體表面流動(dòng)的一種自然現(xiàn)象。
Chip on board (COB板面芯片):一種混合技術(shù),它使用了面朝上膠著的芯片組件,傳統(tǒng)上通過(guò)飛線專門地連接于電路板基底層。
Circuit tester(電路測(cè)試機(jī)):一種在批量生產(chǎn)時(shí)測(cè)試PCB的方法。包括:針床、組件引腳腳印、導(dǎo)向探針、內(nèi)部跡線、裝載板、空板、和組件測(cè)試。
Cladding(覆蓋層):一個(gè)金屬箔的薄層粘合在板層上形成PCB導(dǎo)電布線。
Coefficient of the thermal expansion(溫度膨脹系數(shù)):當(dāng)材料的表面溫度增加時(shí),測(cè)量到的每度溫度材料膨脹百萬(wàn)分率(ppm)
Cold cleaning(冷清洗):一種有機(jī)溶解過(guò)程,液體接觸完成焊接后的殘?jiān)?*。
Cold solder joint(冷焊錫點(diǎn)):一種反映濕潤(rùn)作用不夠的焊接點(diǎn),其特征是,由于加熱不足或清洗不當(dāng),外表灰色、多孔。
Component density(組件密度):PCB上的組件數(shù)量除以板的面積。
Conductive epoxy(導(dǎo)電性環(huán)氧樹脂):一種聚合材料,通過(guò)加入金屬粒子,通常是銀,使其通過(guò)電流。
Conductive ink(導(dǎo)電墨水):在厚膠片材料上使用的膠劑,形成PCB導(dǎo)電布線圖。
Conformal coating(共形涂層):一種薄的保護(hù)性涂層,應(yīng)用于順從裝配外形的PCB。
Copper foil(銅箔):一種陰質(zhì)性電解材料,沈淀于電路板基底層上的一層薄的、連續(xù)的金屬箔,
它作為PCB的導(dǎo)電體。它容易粘合于絕緣層,接受印刷保護(hù)層,腐蝕后形成電路圖樣。 Copper mirror test(銅鏡測(cè)試):一種助焊劑腐蝕性測(cè)試,在玻璃板上使用一種真空沈淀薄膜。
Cure(烘焙固化):材料的物理性質(zhì)上的變化,通過(guò)化學(xué)反應(yīng),或有壓/無(wú)壓的對(duì)熱反應(yīng)。
Cycle rate(循環(huán)速率):一個(gè)組件貼片名詞,用來(lái)計(jì)量從拿取、到板上定位和返回的機(jī)器速度,也叫測(cè)試速度。 SMT基本名詞解釋一
 
D
Data recorder(數(shù)據(jù)記錄器):以特定時(shí)間間隔,從著附于PCB的熱電偶上測(cè)量、采集溫度的設(shè)備。
Defect(缺陷):組件或電路單元偏離了正常接受的特征。
Delamination(分層):板層的分離和板層與導(dǎo)電覆蓋層之間的分離。
Desoldering(卸焊):把焊接組件拆卸來(lái)修理或更換,方法包括:用吸錫帶吸錫、真空(焊錫吸管)和熱拔。
Dewetting(去濕):熔化的焊錫先覆蓋、后收回的過(guò)程,留下不規(guī)則的殘?jiān)?/div>
DFM(為制造著想的設(shè)計(jì)):以*有效的方式生產(chǎn)產(chǎn)品的方法,將時(shí)間、成本和可用資源考慮在內(nèi)。
Dispersant(分散劑):一種化學(xué)品,加入水中增加其去顆粒的能力。
Documentation(文件編制):關(guān)于裝配的數(shù)據(jù),解釋基本的設(shè)計(jì)概念、組件和材料的類型與數(shù)量、專門的制造指示和*新版本。使用三種類型:原型機(jī)和少數(shù)量運(yùn)行、標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)線和/或生產(chǎn)數(shù)量、以及那些指定實(shí)際圖形的政府合約。
Downtime(停機(jī)時(shí)間):設(shè)備由于維護(hù)或失效而不生產(chǎn)產(chǎn)品的時(shí)間。
Durometer(硬度計(jì)):測(cè)量刮板刀片的橡膠或塑料硬度。
 
E
Environmental test(環(huán)境測(cè)試):一個(gè)或一系列的測(cè)試,用于決定外部對(duì)于給定的組件包裝或裝配的結(jié)構(gòu)、機(jī)械和功能完整性的總影響。
Eutectic solders(共晶焊錫):兩種或更多的金屬合金,具有*低的熔化點(diǎn),當(dāng)加熱時(shí),共晶合金直接從固態(tài)變到液態(tài),而不經(jīng)過(guò)塑性階段。
 
F
Fabrication():設(shè)計(jì)之后裝配之前的空板制造工藝,單獨(dú)的工藝包括迭層、金屬加成/減去、鉆孔、電鍍、布線和清潔。
Fiducial(基準(zhǔn)點(diǎn)):和電路布線圖合成一體的專用標(biāo)記,用于機(jī)器視覺,以找出布線圖的方向和位置。
Fillet(焊角):在焊盤與組件引腳之間由焊錫形成的連接。即焊點(diǎn)。
Fine-pitch technology (FPT密腳距技術(shù)):表面貼片組件包裝的引腳中心間隔距離為 0.025"(0.635mm)或更少。
Fixture(夾具):連接PCB到處理機(jī)器中心的裝置。
Flip chip(倒裝芯片):一種無(wú)引腳結(jié)構(gòu),一般含有電路單元。
設(shè)計(jì)用于通過(guò)適當(dāng)數(shù)量的位于其面上的錫球(導(dǎo)電性粘合劑所覆蓋),在電氣上和機(jī)械上連接于電路。
Full liquidus temperature(完全液化溫度):焊錫達(dá)到*大液體狀態(tài)的溫度水平,*適合于良好濕潤(rùn)。
Functional test(功能測(cè)試):模擬其預(yù)期的操作環(huán)境,對(duì)整個(gè)裝配的電器測(cè)試。 SMT基本名詞解釋一
 
G
Golden boy(金樣):一個(gè)組件或電路裝配,已經(jīng)測(cè)試并知道功能達(dá)到技術(shù)規(guī)格,用來(lái)通過(guò)比較測(cè)試其它單元。

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